快速溫變試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。

快溫變試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。

溫度速變試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。

快速升降溫試驗(yàn)箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實(shí)現(xiàn)以較快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件，一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。