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        冷熱沖擊試驗箱不同于高低溫試驗箱

        發布時間: 2025-07-11  點擊次數: 339次

        在環境可靠性測試中,“冷熱沖擊試驗"和“高低溫試驗"經常被提及。不少初入行業的工程師會誤以為它們是同一回事,或隨意替代使用。

        實際上,這兩者在試驗目的、方式、參數要求等方面存在顯著差異,若選型錯誤,不僅會影響產品驗證結論,甚至可能導致可靠性風險。

        本文以各項國際標準依據,梳理技術要點,一次性理清它們的區別。

        一.冷熱沖擊試驗:瞬間破壞、考驗結構失效

        冷熱沖擊試驗是指試樣在兩個溫差較大的環境之間進行快速切換,考察其在劇烈熱脹冷縮作用下的適應性和結構可靠性。常用于焊接結構、封裝材料、電子器件等應力敏感型產品的破壞性篩選或設計驗證。

        ?? 參考標準:

        《GB/T 2423.22-2012》:電工電子產品環境試驗 試驗N:溫度變化

        《IEC 60068-2-14:2009》:Test Na(快速溫度變化)

        《MIL-STD-883H Method 1010.8》:電子元件用溫度沖擊試驗

        高低溫試驗箱 ≠冷熱沖擊試驗箱高低溫試驗箱 ≠冷熱沖擊試驗箱

        高低溫試驗箱 ≠冷熱沖擊試驗箱

        二.高低溫試驗:緩變溫度、考察老化與適應性

        高低溫試驗是一種程序控制的緩慢升降溫試驗,用于評估產品在多次熱應力交替作用下的疲勞老化特性,常用于整機、材料、結構件的可靠性評估。

        ?? 參考標準:

        《GB/T 2423.1-2021》:低溫試驗方法(Test A);《GB/T 2423.2-2021》:高溫試驗方法(Test B)

        《GB/T 2423.22-2012》:溫度變化(Test N);《IEC 60068-2-14》:溫度變化試驗(Test Nb)

        高低溫試驗箱 ≠冷熱沖擊試驗箱

        三.標準對比:冷熱沖擊 vs 高低溫試驗

        高低溫試驗箱 ≠冷熱沖擊試驗箱

        四.實際測試中常見選型誤區

        溫度循環也能看焊點開裂?

        → 由于溫變過慢,高低溫循環無法模擬突發熱應力;焊點裂紋等需要瞬間膨脹破壞的應力條件,必須通過冷熱沖擊方式暴露。

        冷熱沖擊比高低溫循環更適用于各類溫度試驗?

        → 二者各有用途。冷熱沖擊用于設計極限測試或出廠前篩選,高低溫循環則更適合長期老化評估。混用測試方法反而會“錯殺"或“誤放"問題。

        五.試驗箱說明:以三箱式冷熱沖擊試驗箱為例

        以下為我司SETH賽思三箱式冷熱沖擊試驗箱結構與參數,適用于GB/T、IEC、MIL等標準下的快速應力測試。


        產品規格:SET-A3表示-40℃~+150/ A4表示-55℃~+150/A5.表示-65℃~+150

        ?  型號

        SET-A

        SET-B

        SET-C

        SET-D

        SET-G

        內部尺寸

        (W x D x H cm)

        40×35×35

        50×50×40

        60×50×50

        70×60×60

        80×70×60

        外部尺寸

        (W x D x H cm)

        140×165×180

        150×190×185

        160×190×185

        170×240×195

        180×260×200

        結構

        三箱式(預冷箱)(預熱箱)(測試箱)

        溫度恢復時間

        小于5分鐘(出風口測量)

        溫度均勻度

        2

        溫度波動度

        ≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示

        溫度偏差

        ±2

        測試方法

        三箱法標準//兩箱法標準

        冷凍系統

        機械壓縮二元式 復疊制冷方式

        溫度范圍

        預熱溫度

        +50+200

        高溫暴露

        +50+150

        預冷溫度

        R.T-75

        低溫暴露

        -40℃~0/ -55℃~0/ -65℃~0

        控制器

        中文彩色觸摸屏+ PLC控制器(SETH/賽思自行開發)

        控制方式

        靠積分飽和PID,模糊算法 平衡式調溫P.I.D + P.W.M + S.S.R

        標準配置

        附照明玻璃窗口1套、試品架2個、測試引線孔1

        冷卻方式

        水冷(水溫7℃~28℃,水壓0.10.3Mpa),以便確保降溫性能

        安全保護

        漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、超載、過電流保護

        電源電壓

        AC380V 50Hz三相四線+接地線


        冷熱沖擊是“快準狠"的破壞驗證;高低溫循環是“慢扎實"的長期耐久篩查。


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